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液晶顯示高阻四探針測試儀 四探針法測試高阻值材料方阻及電阻率,可以測試到10^10Ω方阻值,液晶顯示,芯片控制,恒流輸出,四探針雙位測量、參考美國A.S.T.M標準。中或英文語言版本.
恒流低阻雙電四探針測試儀四探針法測試低阻材料方阻及電阻率,可以測試到1uΩ方阻值,采用芯片控制,恒流輸出,液晶顯示,自動數據測量,系數補償,參考美國A.S.T.M標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量.提供中文或英文語言版本.
恒流低阻雙電四探針測試儀:四探針法測試低阻材料方阻及電阻率,可以測試到1uΩ方阻值,采用芯片控制,恒流輸出,液晶顯示,自動數據測量,系數補償,參考美國A.S.T.M標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量.提供中文或英文語言版本.
四探針液晶顯示電阻率測試儀雙電測數字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計參考國標單晶硅物理測試方法及A.S.T.M標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數據進行雙電測分析,解決樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響.
普通四探針方阻電阻率測試儀用于:覆蓋膜;導電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導體材料、薄膜材料方阻測試等相關產品
四端測量導體材料電阻率測試儀采用四端測量法適用于生產企業(yè)、高等院校、科研部門,實驗室;是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量工具??膳渲貌煌瑴y量裝置測試不同類型材料之電阻率。液晶顯示,溫度補償功能,自動量程,自動測量電阻,電阻率,電導率數據。恒流源輸出;選配:PC軟件過程數據處理和標準電阻校準儀器,中文或英文兩種語言界面選擇